冷熱沖擊試驗(yàn)箱模擬電子產(chǎn)品失效的原因相信很多客戶已經(jīng)討論過(guò)了，但結(jié)果往往不怎么細(xì)致，其實(shí)：
1、造成故障的因素是多種多樣的， 其中溫度和濕度（水分） 為起因的現(xiàn)象是電氣、電子產(chǎn)品的可靠性課題研究者基本的學(xué)習(xí)領(lǐng)域。環(huán)境試驗(yàn)的實(shí)質(zhì)性工作是在試驗(yàn)條件下， 觀察產(chǎn)品的耐性， 使產(chǎn)品的弱點(diǎn)早期曝露， 對(duì)其弱點(diǎn)進(jìn)行改良， 當(dāng)然， 改良后的確認(rèn)試驗(yàn)的必要性還是不可少的。

2、不能完全相信在進(jìn)行加速試驗(yàn)時(shí)， 單單對(duì)試驗(yàn)施加嚴(yán)酷的試驗(yàn)條件就顯得足夠了。必須要正確把握試驗(yàn)應(yīng)力的內(nèi)容， 應(yīng)對(duì)個(gè)別應(yīng)力的組合效果進(jìn)行分析。除溫度外， 潮濕也是導(dǎo)致電子設(shè)備失效的主要環(huán)境應(yīng)力之一。
3、可以認(rèn)為是物理原因和化學(xué)原因交替或同時(shí)進(jìn)行作用， 加速了產(chǎn)品的老化， 導(dǎo)致故障產(chǎn)生。因此， 可根據(jù)故障機(jī)理進(jìn)行試驗(yàn)， 在生產(chǎn)過(guò)程中除去含有缺陷的產(chǎn)品， 達(dá)到降低偶發(fā)故障期間的故障率， 延長(zhǎng)產(chǎn)品壽命的目的。
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